Технология съемки продольного профиля с использованием микронивелира DIPSTICK-2000

Дано краткое описание микронивелира Dipstick–200 и технологии съемки продольного профиля поверхности искусственных покрытий взлетно-посадочных полос аэропортов с помощью этого прибора. Приводятся результаты оценки точности измерения разности высот точек покрытия с использованием микронивелира. Прибор прошел метрологическую аттестацию в ФГУП «Ростест–Москва» для утверждения типа средств измерений и внесения его в Государственный реестр средств измерений.

A Technology of Longitudinal Profile Measurement Using Dipstick-2000 Micro Level

I.V. Groshev (JSC Progresstech Ltd.)
#2, p. 25
A short description of the Dipstick-2000 Micro Level is given. A technology is introduced to measure a longitudi nal profile of artificial runways at airports using this instru ment. The differences in runway pavement points’ heights were measured. The results of these measurements accura cy assessment results are given. A conclusion is made on the possibility of using the approved technology.